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        JSM-6700F場發射掃描電子顯微鏡

        發布日期:2016-07-28 / 點擊量:4149 / 信息來源:原創

        掃描電子顯微鏡是利用二次電子進行顯微形貌分析的電子顯微分析設備。JSM-6700F由于采用了冷場發射電子槍和特殊的物鏡設計加工技術,因此具有很高的分辨率:1nm/15KV,是微米乃至納米級顯微形貌分析的主要儀器。其主要應用于金屬、新材料、半導體以及生物、工業研究等領域。


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